X射線測(cè)厚儀是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器，利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí)，X射線強(qiáng)度的變化與材料厚度相關(guān)的特性來測(cè)定材料厚度。它廣泛應(yīng)用于測(cè)量薄膜涂層的厚度，尤其是在金屬和非金屬材料的涂層厚度測(cè)量中。

　　測(cè)厚儀在測(cè)量過程中不會(huì)損壞被測(cè)材料，且操作快速、高效，適用于多種不同材料的涂層厚度測(cè)量。

　　X射線測(cè)厚儀，則強(qiáng)調(diào)了其作為一種非接觸式動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器的特點(diǎn)，適用于生產(chǎn)鋁板、銅板、鋼板等冶金材料的企業(yè)，可以與軋機(jī)配套使用，應(yīng)用于熱軋、鑄軋、冷軋、箔軋等多種生產(chǎn)過程。

　　總的來說，X射線測(cè)厚儀在測(cè)量薄膜涂層厚度方面具有高精度、快速測(cè)量和不會(huì)損壞被測(cè)材料等優(yōu)點(diǎn)，適用于多種工業(yè)應(yīng)用場(chǎng)景。